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低能量X射线及红外线测厚仪

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产品功能 此款测厚仪采用国际领先的低能量高精度X射线技术，经历30年不断进步，已达到纳米级测量精。
技术指标 本方案利用X射线穿透物质时的吸收反散射效应实现非接触式测量。由于利用低辐射SOFT-XRAY技术；无需办理专用许可证等手续。
技术亮点 广泛应用于EVA、CPP、PE、PS、PA、PET、PC、PVC、铜箔、铝箔等生产线。
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